安捷倫科技公司推出新一代串聯(lián)四極桿 ICP-MS 系統(tǒng)
新系統(tǒng)的靈敏度提高了兩倍，并新增更多單納米顆粒測定功能，還能對低水平硫/硅實現(xiàn)更準確的測定
2016 年 6 月 23 日北京 — 安捷倫科技（中國）有限公司今天在北京安捷倫原子光譜研討會上正式推出 Agilent 8900 串聯(lián)四極桿 ICP-MS系統(tǒng)。這款電感耦合等離子體質(zhì)譜系統(tǒng)能提供可控的反應(yīng)化學過程，可為之前難以分析的元素（例如硫、硅和磷）提供極低檢測限。該系統(tǒng)還配備有快速檢測器，可為單納米顆粒檢測應(yīng)用樹立全新*。
Agilent 8900 ICP-Q 不僅具有媲美于安捷倫市場的四極桿 ICP-MS 系統(tǒng)的氦氣模式性能和分析效率，還進一步增強了原有用于在反應(yīng)模式中實現(xiàn)受控和一致的干擾去除能力的 MS/MS 模式性能，使這款系統(tǒng)成為世界上功能zui強大、zui靈活的多元素分析儀。
2012 年，安捷倫發(fā)布了世界上具有 MS/MS 功能的串聯(lián)四極桿 ICP-MS (ICP-Q)— Agilent 8800，該系統(tǒng)可提供其他 ICP-MS 系統(tǒng)無法達到的受控和全面干擾去除能力。這款突破性儀器為數(shù)百個實驗室中的分析人員帶來了全新的分析可能性，并且在半導體、材料和學術(shù)研究領(lǐng)域得到了良好應(yīng)用。 安捷倫目前是市場上串聯(lián)四極桿 ICP-MS 技術(shù)的*供應(yīng)商。
新一代 8900 ICP-Q 提供多種配置，可覆蓋從常規(guī)分析到研究和高性能材料分析等多種應(yīng)用。 通過配備更為強大的單納米顆粒測定功能，這款新系統(tǒng)的應(yīng)用范圍除半導體和學術(shù)研究外，還進一步擴展到食品、制藥和生物制藥、化妝品、電子元件以及涂層材料領(lǐng)域。
新型 8900 ICP-Q 不僅具有更強大的單納米顆粒測定功能，的干擾去除能力，還提供能達到極低檢測限的出色性能。此外，8900 ICP-MS/MS 可為硫和硅提供更低的檢測限，幫助科學家更準確地分析半導體晶片、高純材料和生命科學樣品中的污染物。
關(guān)于安捷倫 ICP-MS
ICP-MS 是一種的元素分析技術(shù)，具有高靈敏度、同步分析功能以及寬動態(tài)范圍。此項技術(shù)可用于環(huán)境、食品、臨床、制藥、工業(yè)材料、半導體、原子能發(fā)電、地質(zhì)和采礦、法醫(yī)學、消費品以及考古等多個行業(yè)領(lǐng)域。 安捷倫科技公司開展 ICP-MS 技術(shù)的研發(fā)工作已逾 25 年。
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